UIG产物速递 | X系列高速同轴测试座

        测试座，也称Test Socket，在半导体制造历程中，用于集成电路终测 IC Final Test，它在待测半导体器件与测试设备之间提供电气连接，进行多种电气性能和功效测试。

        此次将给各人介绍X系列高速同轴测试座。

        X系列高速同轴测试座是一款专为高速传输（速度高达160Gbps）和高频测试需求而精心设计的高精度产物。

        · 芯片锡球间距从0.3mm到0.8mm，可提供定制服务

        · 适用于工程测试、大规模量产

        · 提高操作频率规模

        · 淘汰能量的反射和损耗

        · 降低串音滋扰

        速度高达224Gbps的X系列高速同轴测试座正在研发中，敬请期待。

        和林hahabet菲律宾X系列高速同轴测试座，使用高刚性的特殊绝缘质料，具备良好的耐用性，广泛应用于AI、HPC、CPU、GPU、Interface Chip等半导体芯片领域测试。

        据中国信息通信研究院数据，AI芯片市场有望在未来几年发作，2023年AI焦点工业规模突破5784亿元，同比增长19%，预计到2024年市场规模将突破6000亿元，前景良好。

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